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产品说明：
OTDR光时域反射测试模块实现光时域的长距离测试，从而检测光纤的性能品质和光纤中连接点（熔接、冷接、机械连接等）的损耗特性。
产品规格：
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激
光
特
性 |
中心波长 |
1310nm±15nm,1550nm±15nm或1625nm±20nm |
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事件盲区 |
≤45m,脉冲宽度(PW)=50ns,回波损耗35dB时 |
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衰减盲区 |
≤85m,PW=50ns,回波损耗36dB时 |
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动态范围 |
可选：33dB、35dB、37dB、39.5dB、41dB、43dB、45dB
在PW=4μs或5μs、信号噪声比=1时，根据被检测光缆线路中光纤通道的全程传输损耗(dB)和需精确测量时的富余度(dB)来选择。 |
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测
量
特
性 |
测距精度 |
0.001*被检测光纤通道的光学长度 |
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衰减读出分辨率 |
0.001dB |
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线性度 |
≤0.5dB/dB |
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离散反射率测量精度 |
≤2.0dB |
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群折射率设置范围 |
1.4000~1.6000 |
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产
品
规
格 |
光纤连接器 |
FC/PC(可以根据用户的需要，选配SC或APC) |
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数据接口 |
ISA、驱动程序和测试开发接口 |
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环
境
参
数 |
MTBF |
30年 |
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工作温度 |
0℃~+50 |
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相对湿度 |
+30℃时不大于90%（无冷凝） |
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贮存温度 |
-20℃~+70℃ |
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光学技术指标
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光学模块 |
中心波长（ nm ） |
动态范围（ dB ） |
衰减盲区（ m ） |
事件盲区（ m ） |
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732S |
1310/1550±30 |
30.0/28.0 |
 20.0/25.0
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5.0 |
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733S |
1310±30 |
30.0 |
20.0 |
5.0 |
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735S |
1550±30 |
28.0 |
25.0 |
5.0 |
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736S |
1625±20 |
30.0 |
25.0 |
5.0 |
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742S |
1310/1550±20 |
37.0/35.0 |
20.0/25.0 |
5.0 |
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743S |
1310±20 |
37.0 |
20.0 |
5.0 |
|
745S |
1550±20 |
35.0 |
25.0 |
5.0 |
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746S |
1625±20 |
35.0 |
25.0 |
5.0 |
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747S |
1550/1625±20 |
33.5/34.0 |
25.0 |
5.0 |
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752S |
1310/1550±20 |
39.0/40.0 |
25.0 |
5.0 |
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753S |
1310±20 |
39.0 |
25.0 |
5.0 |
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755S |
1550±20 |
40.0 |
25.0 |
5.0 |
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756C |
1625±20 |
39.0 |
25.0 |
5.0 |
|
756S |
1625±20 |
37.0 |
25.0 |
5.0 |
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757S |
1550/1625±20 |
40.0/37.0 |
25.0 |
5.0 |
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765C |
1550±20 |
43.0 |
25.0 |
5.0 |
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766C |
1625±20 |
41.0 |
25.0 |
5.0 |
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782M |
850/1300±20 |
27.0/27.0 |
12.0 |
3.5 |
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788M |
850±20 |
27.0 |
12.0 |
3.5 |
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783M |
1300±20 |
27.0 |
12.0 |
3.5 |
参数如有变化，恕不另行通知。
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